Tonghui TH2851-030 Вимірювач RLC

Ціна актуальна на 01.09.2025

Характеристики

• Частота тестування: 10 Гц – 130 МГц
• Висока точність: використання технології автоматичного балансного моста, чотириполюсної пари тестової конфігурації
• Висока стабільність та узгодженість
• Висока швидкість: максимальна швидкість тестування до 5 мс
• Висока роздільна здатність: 10,1-дюймовий ємнісний сенсорний екран, роздільна здатність 1280×800
• Три методи тестування: точковий тест, сканування списку та графічне сканування
• Функція багатопараметричного сканування списку на 1601 точку
• Вимірювання чотирьох параметрів
• Функція графічного сканування на 4 канали, кожен канал може відображати 4 криві, 16 варіантів розділення екрана для каналів та кривих
• Потужне сортування: 10-ступінчасте сортування в режимі LCR
• У режимі графічного сканування кожна крива сортується окремо
• Висока сумісність: підтримка набору інструкцій SCPI, сумісність із KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A

Застосування

Пасивні компоненти:
Оцінка імпедансу та аналіз характеристик конденсаторів, індуктивностей, магнітних сердечників, резисторів, п'єзоелектричних пристроїв, трансформаторів, чіп-компонентів та мережевих компонентів.

Напівпровідникові компоненти:
Тестування та аналіз паразитних параметрів інтегральних мікросхем драйверів світлодіодів.
Дослідження C-VDC характеристик варикапів.
Аналіз паразитних параметрів транзисторів чи інтегральних мікросхем.

Інші компоненти:
Оцінка імпедансу друкованих плат, реле, перемикачів, кабелів, батарей.

Діелектричні матеріали:
Оцінка діелектричної проникності та кута втрат пластиків, кераміки та інших матеріалів.

Магнітні матеріали:
Аналіз магнітної проникності та кута втрат феритів, аморфних матеріалів та інших магнітних матеріалів.

Напівпровідникові матеріали:
Оцінка діелектричної проникності, електропровідності та C-V характеристик напівпровідникових матеріалів.

Рідкокристалічні осередки:
Оцінка діелектричної проникності, пружних констант та C-V характеристик рідкокристалічних осередків.