- Бренд:
- Модель:TH2840A
- Артикул:10969
- Доступно:Є в наявності100
- Вага:5.00 кг
- Розміри (Д x Ш x В):280.00 x 88.00 x 370.00 мм
- Базова точність:0.01%
- Макс. тестова частота:500 кГц
- Показати всі характеристики
Ціна актуальна на 01.09.2025
Характеристики
- Швидкість тестування до 1800 разів/с (>10 кГц), без часу спрацьовування реле
- Рівень тестування до 20 В RMS
- Вбудована напруга, що зміщує ±40 В / ±100 мА / 2 А
- Зручний інтерфейс користувача: нижній рівень Linux, вбудований довідковий файл
- 10,1-дюймовий сенсорний ємнісний екран 1280×800
- Близько 100 МБ пам'яті для зберігання налаштувань у пристрої та можливість збереження великої кількості файлів на USB-накопичувачі
- Підтримка ПК для конвертації файлів попередніх моделей для забезпечення сумісності
Застосування
■ Пасивні компоненти:
Оцінка імпедансу та аналіз характеристик конденсаторів, індуктивностей, магнітних сердечників, резисторів, п'єзоелектричних пристроїв, трансформаторів, чіп-компонентів та мережевих компонентів.
■ Напівпровідникові компоненти:
Тестування та аналіз паразитних параметрів інтегральних мікросхем драйверів світлодіодів.
Дослідження C-VDC характеристик варикапів.
Аналіз паразитних параметрів транзисторів чи інтегральних мікросхем.
■ Інші компоненти:
Оцінка імпедансу друкованих плат, реле, вимикачів, кабелів, батарей.
■ Діелектричні матеріали:
Оцінка діелектричної проникності та кута втрат пластмас, кераміки та інших матеріалів.
■ Магнітні матеріали:
Аналіз магнітної проникності та кута втрат феритів, аморфних матеріалів та інших магнітних матеріалів.
■ Напівпровідникові матеріали:
Оцінка діелектричної проникності, електропровідності та C-V характеристик напівпровідникових матеріалів.
■ Рідкокристалічні осередки:
Оцінка діелектричної проникності, пружних констант та C-V характеристик рідкокристалічних осередків.
| Главные | |
| Базова точність | 0.01% |
| Макс. тестова частота | 500 кГц |
| Общие | |
| Тип | Лабораторний |


